图1 甘薯样本图
图2 采集流程
图3 甘薯的光谱曲线(原始光谱、SNV预处理后的光谱与平均光谱)
分别采用MC-UVE、RF和SPA方法提取特征波长,如图4所示。基于这三种方法提取出的特征波长分别建立PLS-DA和LDA模型,均取得了较好的分类结果。其中RF-PLS-DA模型表现最好,总的判别准确率高达92.86%,健康、冻死、病害三类分别的判别准确率为97.14%,94.29%和87.14%。LDA分类模型的预测结果,以三维散点图的形式呈现在图5中。
图4 提取特征波长
图5 LDA模型的三维散点图(MCUVE-LDA模型,RF-LDA模型和SPA-LDA模型)
结果表明:利用高光谱成像技术可以鉴别冻伤甘薯和病害甘薯,为甘薯的存储与加工提供了理论依据,为提升甘薯产业的经济效益提供帮助。